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半導體中空玻璃露點儀
半導體中空玻璃露點儀 添加時間：2021-9-10 14:50:14

半導體中空玻璃露點儀產品用途：用于檢測中空玻璃露點測試。

產品詳情

半導體中空玻璃露點儀產品用途：用于檢測中空玻璃露點測試。

半導體中空玻璃露點儀產品適用標準：GB/T11944-2012《中空玻璃》

半導體中空玻璃露點儀技術參數：

1、冷測頭的溫度：＜-60℃

2、溫度分辨率：0.1℃

3、測試箱 長×寬×高（mm）：1040×550×820

4、測溫精度：±0.5℃

5、時間范圍：1~10min（可任意設定）

6、時間分辨率：1s

7、配帶動力：交流220V,   功率：0.6Kw

8、自重：40kg

半導體中空玻璃露點儀主要特點：

1、運用先進的復迭式壓縮機制冷技術；

2、操作簡單，顯示直觀。